Как улучшить элементы памяти для гибкой электроники

Этого можно добиться, облучив фторированный графен тяжелыми ионами

Исследователи из России и Польши модифицировали фторированный графен, облучив его ксеноном. Они удалили фтор и создали проводящие квантовые точки в матрице изолирующего материала. На основе таких структур сделаны мемристоры элементы памяти, которые применяются для создания гибких датчиков в носимой электронике, медицинских и производственных сенсорах.

Научный сотрудник ИФП СО РАН кандидат наук Артем Иванов за работой на двумерном принтере

Научный сотрудник ИФП СО РАН кандидат наук Артем Иванов за работой на двумерном принтере

Фото: фото В. Яковлева

Научный сотрудник ИФП СО РАН кандидат наук Артем Иванов за работой на двумерном принтере

Фото: фото В. Яковлева

В работе приняли участие сотрудников Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН) — научной группы под руководством доктора наук Ирины Антоновой, Объединенного института ядерных исследований (ОИЯИ), Новосибирского государственного технического университета.

Новое исследование — продолжение работы специалистов ИФП СО РАН по созданию элементов памяти для гибкой электроники на основе соединений графена. Ранее эта же научная группа сделала мемристоры, модифицируя графен химическим путем, с целью получить систему квантовых точек в матрице фторированного графена. Преимущество облучения в том, что оно позволяет добиться создания такой системы (нужной для работы мемристоров), более контролируемо и воспроизводимо. Исследование поддержано Российским научным фондом (проект №19-72-10046, руководитель Н. А. Небогатикова).

Мемристор микроэлектронный компонент, по своим свойствам похожий на синапс — место контакта двух нейронов. В отличие от транзистора, мемристор способен не только передавать информацию в режиме «0» или «1», а еще присвоить ей уровень значимости. Мемристоры способны «запоминать» количество протекшего через них заряда и менять свое сопротивление в зависимости от этого. Если подать высокое напряжение, мемристорная система станет открытой будет проводить электрический ток, а при смене полярности напряжения закроется.

Мемристорные структуры, нанесенные на гибкую полимерную пленку (фото Н. Дмитриевой)
Измерение электрофизических параметров мемристорных структур

Мемристорные структуры, нанесенные на гибкую полимерную пленку (фото Н. Дмитриевой) Измерение электрофизических параметров мемристорных структур

Фото: Пресс-служба ИФП СО РАН

Мемристорные структуры, нанесенные на гибкую полимерную пленку (фото Н. Дмитриевой) Измерение электрофизических параметров мемристорных структур

Фото: Пресс-служба ИФП СО РАН

«Наши мемристорные системы на основе облученного фторированного графена открываются и закрываются благодаря формированию и разрушению путей протекания электрического тока по графеновым квантовым точкам. Разница токов в открытом и закрытом состоянии — 2–4 порядка: такого диапазона достаточно, чтобы сделать ячейки памяти. Мемристорная память энергонезависима и совмещает в себе достоинства оперативной и флеш-памяти. Переключение мемристора (из закрытого в открытое состояние), то есть перезапись информации, происходит за 30–40 наносекунд. Это примерно в 1000 раз быстрее, чем у современной флеш-памяти. Наносекунда — миллиардная доля секунды»,— поясняет автор исследования, научный сотрудник лаборатории физики и технологии трехмерных наноструктур ИФП СО РАН кандидат физико-математических наук Артем Ильич Иванов.

Технология изготовления образцов довольно проста: на тонкие полимерные пленки (из поливинилового спирта) методом 2D-печати наносился фторированный графен, также разработанный и созданный в ИФП СО РАН. Затем готовые структуры облучались в ОИЯИ высокоэнергетичными ионами, после чего во всех структурах наблюдались резистивные переключения, то есть такие, когда сопротивление материала обратимо меняется в ответ на изменение электрического поля.

Нужно отметить, что облучение ионами можно использовать для промышленного технологического процесса. Так, одна из наиболее известных разработок ОИЯИ — изготовление трековых мембран (именно при помощи облучения) для фильтрации растворов для технологий нано- и микроэлектроники и бытовых нужд, когда мембраны создаются рулонами.

Измерение электрофизических параметров мемристорных структур

Измерение электрофизических параметров мемристорных структур

Фото: фото предоставлено А. Ивановым

Измерение электрофизических параметров мемристорных структур

Фото: фото предоставлено А. Ивановым

«Наши дальнейшие планы работы с новым материалом — показать, как взаимодействуют ячейки памяти в массиве, для этого мы сделаем небольшие логические электронные схемы: “и”, “не”, “или”. Существует множество параметров, на которые может влиять соединение ячеек, и нам нужно проверить, как будут мемристоры чувствовать себя в системе из нескольких элементов»,— добавляет Артем Иванов.

Исследования по созданию энергонезависимой памяти для гибкой электроники ведутся во всем мире.

«В основном такую память пытаются сделать на основе оксида графена и полимерных материалов, дихалькогенидов металлов. У них есть свои плюсы и минусы: например, оксид графена способен восстанавливаться под действием напряжения, температуры — он менее стабилен, чем фторированный графен, который используем мы. Важно понимать, что в случае создания гибких носителей, мы не соревнуемся с привычной твердотельной электроникой на кремнии — там иные свойства, многие параметры лучше, но твердотельная электроника не способна функционировать в условиях деформации»,— подчеркивает исследователь.

«Опубликованная работа — первый шаг в направлении использования облучения как метода формирования массива квантовых точек в матрице фторированного графена. Любая технология требует отладки. На экспериментальных, небольших объемах, с которыми мы работаем сейчас, наши образцы выглядят перспективно. Важно, что продемонстрирован метод, как надежно и сравнительно быстро получать мемристоры на основе фторированного графена со сформированными облучением квантовыми точками»,— заключает Артем Иванов.

Использованы материалы статьи

Пресс-служба ИФП СО РАН

Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...
Загрузка новости...